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盤點(diǎn)臺(tái)階儀使用注意事項(xiàng)

更新時(shí)間:2022-04-06瀏覽:1641次

臺(tái)階儀作為一種接觸式的表面形貌測(cè)量?jī)x器,其在很多領(lǐng)域都有著較為廣泛的應(yīng)用。在使用設(shè)備的過程中也會(huì)有很多注意事項(xiàng),今天上海爾迪儀器科技有限公司就帶大家看看需要注意的地方:

1.取放臺(tái)階儀樣品時(shí)都要貼著樣品臺(tái)。

2.保證被測(cè)樣品表面干凈沒有灰塵顆粒以防弄臟針尖。

3.樣品臺(tái)階不超過要求,不可太粗糟,平面度要在儀器量程內(nèi)。

4.在測(cè)試和啟動(dòng)軟件的時(shí)候,請(qǐng)確認(rèn)臺(tái)階儀上的門是關(guān)著的。

5.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候請(qǐng)勿觸摸防震桌或者奔跑等,避免引起較大噪聲和震動(dòng)的活動(dòng)以免影響測(cè)試結(jié)果甚至損壞探針。

6.測(cè)完數(shù)據(jù)后及時(shí)拷走以防系統(tǒng)崩潰而丟失數(shù)據(jù)。測(cè)完后請(qǐng)關(guān)閉總電源

 

 

bruker是分子和材料研究以及工業(yè)和應(yīng)用分析科學(xué)儀器的制造商。致力于研發(fā)高水平、高精度分析儀器。一直堅(jiān)持為每項(xiàng)分析工作提供高精的技術(shù)解決方案。 

 

Bruker Dektak-XT 臺(tái)階儀是五十多年專有技術(shù)進(jìn)步的TOP。它們提供可重復(fù)、可靠和準(zhǔn)確的測(cè)量:從傳統(tǒng)的臺(tái)階高度測(cè)量和二維粗糙度的表面表征到高級(jí)三維形貌和薄膜應(yīng)力分析。bruker臺(tái)階儀已被廣泛接受為薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度和形貌測(cè)量的金標(biāo)準(zhǔn),應(yīng)用到從學(xué)術(shù)研究到半導(dǎo)體過程控制等不同領(lǐng)域。

 

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