BRUKER原子力顯微鏡是一種用于觀察和測量樣品表面性質(zhì)的儀器。它基于原子力的作用原理，通過探針與樣品表面的相互作用來獲取樣品表面的形貌和力學性質(zhì)信息。
 

　　BRUKER原子力顯微鏡的工作原理可以簡單概括為以下幾個步驟：
 

　　1、探針與樣品接觸：探針是一個微小的、尖銳的金屬或碳納米管等材料制成的針尖。當探針接近樣品表面時，由于范德華力、靜電力或磁力等相互作用，探針會與樣品表面發(fā)生接觸。
 

　　2、掃描樣品表面：一旦探針與樣品表面接觸，它會在垂直于樣品表面的方向上掃描探針，以獲取樣品表面的形貌信息。掃描過程中，探針會受到樣品表面的反作用力，這個反作用力被稱為原子力。
 

　　3、測量原子力：通過測量探針受到的原子力來獲得樣品表面的信息。當探針掃描樣品表面時，探針所受的原子力會引起探針彎曲或振動。這種彎曲或振動可以通過激光干涉儀等裝置進行檢測和測量。根據(jù)測量到的探針彎曲或振動信號，可以計算出探針與樣品之間的相互作用力。

 

　　4、反饋控制系統(tǒng)：為了保持探針與樣品表面的恒定接觸，AFM配備了一個反饋控制系統(tǒng)。該系統(tǒng)會根據(jù)探針與樣品之間的相互作用力來調(diào)整探針的位置和高度，以保持恒定的接觸力。這樣可以避免對樣品造成過大的損傷，并確保獲得準確的測量結果。
 

　　5、圖像重建：通過記錄探針在掃描過程中的位移和相互作用力等信息，可以重建出樣品表面的形貌圖像。這種圖像通常以數(shù)字形式表示，可以顯示出樣品表面的起伏、粗糙度和形貌特征等信息。
 

　　總的來說，BRUKER原子力顯微鏡利用原子力的作用原理，通過探針與樣品表面的相互作用來獲取樣品表面的形貌和力學性質(zhì)信息。它具有高分辨率、非破壞性、可實時觀察等特點，廣泛應用于材料科學、生物學、化學等領域的研究工作中。